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XU-100高性價(jià)比專業(yè)級(jí)測(cè)厚儀膜厚儀 全新下照式設(shè)計(jì)、性價(jià)比高、適用性強(qiáng)，輕松快速解決各種平面件、異形件及電鍍液的檢測(cè)，且能自動(dòng)判定測(cè)試結(jié)果。

XU-100高性價(jià)比型鍍鋅層測(cè)厚儀膜厚儀 全新下照式設(shè)計(jì)、性價(jià)比高、適用性強(qiáng)，輕松快速解決各種平面件、異形件及電鍍液的檢測(cè)，且能自動(dòng)判定測(cè)試結(jié)果。

高精度X熒光測(cè)厚儀專業(yè)針對(duì)金屬鍍層厚度進(jìn)行檢測(cè)，通常電鍍金、鍍鎳、鍍鋅、鍍錫、鍍鉻、鍍銀、鍍銠、鍍鈀等金屬鍍層厚度，測(cè)試精度高，專業(yè)中文（或英文）操作軟件使操作更簡(jiǎn)單方便，客戶只需簡(jiǎn)單培訓(xùn)既可上崗操作，同時(shí)性價(jià)比非常高

XAU系列國產(chǎn)X熒光測(cè)厚儀是一款設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu)緊湊，模塊精密化程度*的光譜分析儀，采用了下照式C型腔體設(shè)計(jì)，是一款一機(jī)多用型光譜儀。應(yīng)用核心EFP算法和微光聚集技術(shù)，既保留了專用測(cè)厚儀檢測(cè)微小樣品和凹槽的性能，又可滿足微區(qū)RoHS檢測(cè)及成分分析。主要用于金屬鍍層厚度的檢測(cè)，廣泛應(yīng)用于電子電器、五金工具、電鍍加工、隔離開關(guān)、材料表面處理、電子連接器等企業(yè)，多一次分析三層。

X熒光電鍍厚度測(cè)試儀 1.*EFP算法：多層多元素、各種元素及有機(jī)物，甚至有同種元素在不同層也可測(cè)量。 2.上照式設(shè)計(jì)：實(shí)現(xiàn)可對(duì)超大工件進(jìn)行快、準(zhǔn)、穩(wěn)高效率測(cè)量。 3.自動(dòng)對(duì)焦：高低大小樣品可快速清晰對(duì)焦。 4.變焦裝置算法：可對(duì)大90mm深度的凹槽高低落差件直接檢測(cè)。 5.小面積測(cè)量：小測(cè)量面積0.002mm2

XAU-4C光譜分析儀x射線測(cè)厚儀是一款設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu)緊湊，模塊精密化程度*的光譜分析儀，采用了下照式C型腔體設(shè)計(jì)，是一款一機(jī)多用型光譜儀。應(yīng)用核心EFP算法和微光聚集技術(shù)，既保留了專用測(cè)厚儀檢測(cè)微小樣品和凹槽的性能，又可滿足微區(qū)RoHS檢測(cè)及成分分析。被廣泛用于各類產(chǎn)品的質(zhì)量管控、來料檢驗(yàn)和對(duì)生產(chǎn)工藝控制的測(cè)量使用。